更新時間:2024-06-24
熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
鍍層測試儀特點:
中文視窗操作測量系統解析度0.001um, 小測量面積0.1mmΦ可測量合金層之厚度和組成比例可測量兩層以上鍍層之個別厚度藉由光譜分析可判定被測物之元素適用對象:1C導線架,封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業。
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